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CEM3000系列納米材料觀測掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。此外，該系列臺式電鏡也可以進入手套箱、車廂還是潛水器等狹小空間內大顯身手。即便在一些常規(guī)電鏡難以耐受的工作環(huán)境中，該系列臺式電鏡也能憑借抗振防磁技術，展現出色的性能。

NS系列半導體臺階高度測量儀器可精準測量臺階高度（納米至1050μm）、表面粗糙度（Ra、Rz等參數）、膜層厚度及應力分布，為材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質量管控提供可靠數據支持。廣泛應用于半導體、光伏、MEMS、光學加工等領域。

VT6000高精度共聚焦顯微鏡基于共聚焦技術，結合精密Z向掃描與智能3D建模算法，可實現對納米至微米級表面形貌的高精度測量，覆蓋光滑、粗糙、低反射至高反射等多樣化材料表面。廣泛應用于半導體、3C電子、汽車零部件、航空航天、MEMS器件等超精密加工領域，助力企業(yè)提升質量控制效率與產品研發(fā)能力。

CEM3000實驗室臺式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。臺式結構節(jié)省空間，可置于桌面或狹小環(huán)境（如手套箱、車廂）。

NS系列半導體臺階儀應用場景適應性強，其對被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求，可測量沉積薄膜的臺階高度、抗蝕劑（軟膜材料）的臺階高度等。

CEM3000系列高易用性掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調節(jié)。具有出色的電子光學系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數下的清晰成像，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。